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TEOS 氧化硅片

以正硅酸乙酯(TEOS)为源、LPCVD / PECVD 沉积的氧化硅膜:台阶覆盖与间隙填充优异,用于侧墙、层间介质与牺牲层。

产品介绍

TEOS 氧化硅片(TEOS Oxide Wafer)是以正硅酸乙酯(TEOS,Si(OC₂H₅)₄)为前驱体、通过化学气相沉积在硅片表面生成二氧化硅膜的衬底。TEOS 在沉积过程中热分解并氧化形成 SiO₂,膜厚、成分可控;相比以硅烷为源的沉积,TEOS 氧化硅的台阶覆盖与间隙填充能力更优、膜层均匀、颗粒较少。

两种主要工艺:LPCVD TEOS 在约 650–750℃ 热壁反应,膜层致密、台阶覆盖优异,适合侧墙与牺牲层;PECVD TEOS 在约 300–400℃ 等离子增强,可在金属化后等温度敏感结构上沉积,并以臭氧工艺优化间隙填充。TEOS 氧化硅广泛用于晶体管侧墙、层间介质、浅槽间隙填充、钝化与 MEMS 牺牲层;每批随附椭偏膜厚与折射率映射、应力及刻蚀速率,工艺见薄膜沉积与镀膜。

核心特性

  • 以 TEOS 为源沉积 SiO₂,膜厚可控;
  • LPCVD 约 650–750℃,致密、台阶覆盖 > 90%;
  • PECVD 约 300–400℃,适合低温与间隙填充;
  • 折射率约 1.45–1.46;
  • 均匀性好、颗粒低;
  • 适合侧墙、层间介质与牺牲层。
沉积TEOS氧化硅膜的硅片

TEOS 氧化硅片:共形覆盖能力强

应用场景

晶体管侧墙

LPCVD TEOS 沉积后回刻,形成栅侧墙。

层间介质

金属层间绝缘与平坦化的底层介质。

间隙填充

高密度结构与浅槽的共形、无空洞填充。

钝化保护

器件表面的介质钝化层。

MEMS 牺牲层

可被释放的氧化硅牺牲膜。

临时介质层

工艺中的阻挡与掩蔽介质,详见MEMS 与传感器。

能力介绍

  • LPCVD TEOS:热壁批量、均匀致密、共形性好;
  • PECVD TEOS:低温、应力可调,适合金属化后沉积;
  • 臭氧 TEOS(O₃-TEOS):间隙填充能力优秀;
  • 膜厚与折射率逐批映射;
  • 应力与湿法刻蚀速率随批检测;
  • 可双面沉积平衡应力,见镀膜衬底。
TEOS氧化硅膜厚逐片测量

膜厚测量:逐片确认 TEOS 膜均匀性

共形覆盖 · 间隙填充

从侧墙到层间介质,按后续工艺选择 LPCVD、PECVD 或 O₃-TEOS;每批随附膜厚、折射率、应力与刻蚀速率,详见定制加工总览。

参数规格

参数规格 / 可定制范围
前驱体TEOS(正硅酸乙酯)
沉积方法LPCVD(约 650–750℃)/ PECVD(约 300–400℃)
氧化方式热分解、O₂ / O₃ 氧化或等离子增强
折射率约 1.45–1.46(632.8nm)
台阶覆盖> 90%(LPCVD)
膜应力约 –100 至 –300MPa 压应力,可工艺调节
参数规格 / 可定制范围
膜厚范围按需求(数十 nm 至数 μm)
面内均匀性约 ±2–5%(视工艺而定)
颗粒洁净沉积、低颗粒
BHF 速率随膜密度变化,随批提供
直径100mm、150mm、200mm、300mm
晶向〈100〉、〈111〉、〈110〉

设备与工艺装备

设备类别典型配置用途
LPCVD 炉热壁卧式 / 立式炉TEOS 热分解沉积
PECVD 反应器平行板等离子低温 TEOS 沉积
臭氧供气O₃ 发生与混合O₃-TEOS 间隙填充
椭偏仪膜厚 / 折射率多点映射
应力测量晶圆曲率扫描膜应力
湿法台BHF 速率验证膜密度指标
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常见问题

TEOS 氧化硅是什么?
以正硅酸乙酯为前驱体沉积的 SiO₂,台阶覆盖与间隙填充能力优于硅烷氧化。
LPCVD 和 PECVD TEOS 怎么选?
LPCVD 约 650–750℃、致密,适合侧墙;PECVD 约 300–400℃,适合金属化后与间隙填充。
什么是 O₃-TEOS?
以臭氧为氧化剂的 TEOS 工艺,流动性好、间隙填充能力强。
TEOS 氧化硅有哪些用途?
侧墙、层间介质、间隙填充、钝化与 MEMS 牺牲层。
随批提供哪些数据?
椭偏膜厚 / 折射率、应力与 BHF 刻蚀速率。
TEOS 氧化硅的折射率和膜厚范围是多少?
折射率约 1.45–1.46(632.8nm),膜厚可按需求从数十 nm 到数 μm,面内均匀性约 ±2–5%(视工艺而定)。
膜应力大概多大,能调节吗?
TEOS 氧化硅膜应力约 –100 至 –300MPa 压应力,可通过工艺调节;必要时可双面沉积平衡应力,降低晶圆翘曲。
台阶覆盖能力怎么样?
LPCVD TEOS 的台阶覆盖 > 90%,共形性好,适合晶体管侧墙与高深宽比结构的间隙填充,致密的膜层也是其优势。
支持哪些晶圆尺寸和晶向?
直径覆盖 100/150/200/300mm,晶向可选〈100〉、〈111〉、〈110〉,在硅片表面沉积 TEOS 氧化硅膜。
膜厚均匀性和颗粒怎么控制?
面内均匀性约 ±2–5%(视工艺而定),采用洁净沉积工艺控制颗粒;每批通过椭偏多点映射确认膜厚与折射率均匀性。

告知膜厚、工艺(LPCVD / PECVD / O₃)、直径与数量,24 小时内回复

侧墙到层间介质均可定制

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