RDL 再布线与凸块
多层 Cu-RDL 再布线、UBM 金属化、铜柱/焊料凸块制备,实现芯片 I/O 扇出与高密度互连。
了解 RDL / Bumping →在晶圆上完成金属互连、介电层堆叠与微凸块制备——让 AI 芯片设计公司与封测厂以最低成本完成前期架构验证。
硅中介层、RDL 与微凸块一站配套,加速 2.5D/3D 异构集成打样 TSV 深孔填铜与硅通孔全流程,缩短 HBM 堆叠验证周期 高阻硅 / 石英衬底与精密图形化,支撑光电共封装集成方案 UBM 叠层、铜柱凸块与多层 RDL,精密加工对准标记 ABF 载板、混合键合与倒装工艺,完成高密度互连验证
在晶圆表面逐层构建金属布线(RDL)、介电绝缘层与微凸块互连结构,使芯片在封装前就具备高密度电气互连能力。这是 2.5D/3D 先进封装、Chiplet 异构集成、HBM 堆叠和 CPO 光互联的核心工艺基础。
介电薄膜、光刻图形化、RDL 再布线、TSV 硅通孔、晶圆键合与衬底供应——六大能力覆盖晶圆级增层的完整流程,从一片衬底到验证晶圆一站式完成。
多层 Cu-RDL 再布线、UBM 金属化、铜柱/焊料凸块制备,实现芯片 I/O 扇出与高密度互连。
了解 RDL / Bumping →
PECVD / ALD 介电层堆叠、PVD 金属种子层与阻挡层沉积,构成增层工艺的「砖与水泥」。
了解薄膜工艺 →
接触式 / 步进式光刻精密图形化(≥0.5 μm),配套掩膜版设计与制造,定义每一层互连布局。
了解光刻工艺 →
DRIE 深硅刻蚀 + 绝缘层 + 填铜,实现芯片正反面垂直互连,HBM 与 3D 堆叠的关键工艺。
了解 TSV / DRIE →
直接键合、共晶键合、Hybrid Bonding,将芯片或中介层堆叠在一起,形成 3D 封装结构。
了解键合工艺 →
硅中介层、TGV 玻璃基板、高阻硅、石英与 SOI 等增层工艺所需的全部衬底材料,国内仓现货。
查看衬底产品 →AI 芯片从架构设计到量产之间,有一段漫长而昂贵的验证期——流片一次数百万、排产等待数月。对于 Chiplet 拼接方案、HBM 堆叠结构、CPO 光电互连等新架构,设计公司往往需要在正式流片前反复验证互连可靠性、热管理与信号完整性。
我们把验证门槛降到最低:
从设计到验证晶圆交付,一个团队完成全流程
TEG(Test Element Group)测试元件组晶圆,是带互连图形、凸块、TSV 或特定机械结构的专用晶圆。设计公司与封测厂用它评估封装可靠性、监控工艺窗口、调试设备状态——无需承担正式流片成本,就能把关键参数验证在前。
带互连链路的测试载具,通过连续性测量评估焊点、TSV 与键合在应力后的可靠性,链长与拓扑可按版图定制。
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SnAg / AuSn / 铜柱 / Au 钉头凸块载具,最小间距 80μm,服务倒装与晶圆级封装的互连验证。
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边缘留厚、中心减薄的超薄晶圆,支撑 HBM、3D 堆叠的减薄与键合工艺验证。
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用于工艺监控与设备调试的标准晶圆,随批次提供可追溯的检测数据。
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无器件的机械陪片,用于腔体填充、温度均衡与设备走带验证,降低量产调试成本。
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特殊翘曲形态晶圆与定制加工,验证应力分布、封装翘曲与键合工艺窗口。
了解产品晶基半导体不是贸易商或中间商——材料、工艺、产能三个环节由同一个团队把控,从一片衬底到验证晶圆一站式完成。
衬底材料供应 + 微纳加工 + 先进封装配套,全链路一个体系完成,不转包、不拼凑。
懂先进封装架构要求,方案阶段即规避工艺匹配风险,全程单点对接。
8/12 英寸晶圆厂与封装厂长期合作,样品小批量快速排产,检测数据随批交付。
从需求对接、方案设计到交付验收,一个团队单点对接,不转包、不推诿。




围绕 AI 芯片的封装集成需求,提供从衬底、工艺到验证的一站式配套,覆盖当前主流与下一代先进封装路线。
硅转接板、RDL 与微凸块配套,加速 2.5D 异构集成打样。
了解方案TSV 硅通孔与减薄工艺,缩短 HBM 堆叠验证周期。
了解方案玻璃通孔与玻璃衬底,支撑下一代高频低损耗封装。
了解方案高阻硅 / 石英衬底与精密图形化,服务光电共封装。
了解方案Hybrid Bonding 晶圆与键合工艺,实现高密度 3D 互连。
了解方案高功率密度衬底与厚铜工艺,服务 AI 供电与 HVDC。
了解方案UBM、铜柱凸块与多层 RDL,实现 I/O 扇出与高密度互连。
了解方案面板级 RDL 与玻璃 / 蓝宝石衬底,探索下一代大尺寸封装。
了解方案从 NDA、SOW 到图纸确认、合同与交付,每一步都有书面依据;报价含税、随批附检测数据。
客户提供 CAD 工程图或 GDSII 版图,工程师完成设计规则检查(DRC)、工艺匹配与可行性评估后进入加工;图纸与版图全程受 NDA 保护。
签署保密协议,保护图纸与工艺参数
明确工艺范围、技术指标与验收标准
含税报价单与排产周期
GDSII 版图与 DRC 数据检查
锁定产能与交期
随附 CoC 与检测数据
围绕 AI 先进封装、材料选型与工艺制程,写给工程师的实用内容,持续更新。
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