2.5D 转接板
承载 GPU/ASIC 与 HBM,实现高密度扇出与高频走线,是玻璃最具想象力的应用之一。
先进封装 · 2026-10-05 · 约 9 分钟
随着 AI 芯片对带宽与集成密度的需求爆炸式增长,2.5D/3D 封装与 Chiplet 架构成为延续摩尔定律的主战场。作为芯片间高密度互连的物理载体,转接板(Interposer)材料的选择至关重要——而玻璃,正以黑马姿态进入这场竞争。
玻璃以低损耗、可调 CTE 与大尺寸潜力,成为 2.5D/3D 转接板的新方案
玻璃基板的三大先天优势可以概括为:电学性能好(绝缘、低介电损耗)、热膨胀可调(CTE 3–10 ppm/K 可设计)、大尺寸潜力(面板级加工)。围绕这三点,本文梳理 TGV 的打孔、金属化与可靠性要点。
玻璃基板在先进封装中的主要落地方向。
承载 GPU/ASIC 与 HBM,实现高密度扇出与高频走线,是玻璃最具想象力的应用之一。
作为芯片间互连载体,配合 TGV 实现垂直互连,服务 Chiplet 架构的高密度集成。
玻璃可做成 510×515mm 及以上面板尺寸,理论成本随面积扩大显著下降。
介电常数与损耗因子远低于硅,高频信号传输损耗小,适合毫米波与高速 SerDes 互连。
玻璃表面天然平整光滑,无需研磨即可直接做精细 RDL 布线,也常用于晶圆键合与气密封装。
作为玻璃核心基板(glass core substrate),与硅形成混合集成的分工。
此外,玻璃表面天然平整光滑,无需研磨即可直接做精细 RDL 布线,这对 1μm 级线宽的封装基板是重大工艺红利。
TGV(Through Glass Via,玻璃通孔)的成孔方式主要有喷砂、光敏玻璃曝光刻蚀、深反应离子刻蚀(DRIE)与激光诱导深度刻蚀(LIDE)。目前产业化主流是激光诱导刻蚀路线:先用超快激光在玻璃内部诱导改性区,再用湿法刻蚀选择性去除改性材料,形成通孔。该工艺的特点:
激光诱导刻蚀成孔 + 种子层电镀,是当前 TGV 金属化的主流路线
激光诱导刻蚀成孔 + 种子层电镀,再经电镀填孔与 CMP 平坦化,是当前让玻璃孔导电、并长期可靠的主流工艺路线。
打孔只是第一步,让玻璃孔导电并长期可靠才是工程核心:
实践中的趋势是「混合集成」:对密度与散热要求最高的芯片近端互连用硅,大面积扇出与高频走线用玻璃——2.5D 转接板、玻璃核心基板(glass core substrate)都是这一思路的产物。
评估一套 TGV 方案是否可用,建议至少完成:温度循环(-55~125°C,500–1000 次)后的通孔电阻漂移、绝缘电阻(>10⁹ Ω)、气密性(氦检漏,密封场景)与湿热试验(85°C/85%RH)。我们做 TGV 项目交付时,以上检测数据均可随批提供。
我们提供 BF33 等玻璃基板现货与 TGV 打孔、金属化一站式服务,孔位图(DXF/GDSII)发来后 1 个工作日内反馈可制造性与报价,详见 玻璃衬底 / TGV 产品页。
TGV 与 TSV 对比、三种成孔工艺取舍与典型规格速查。
| 维度 | TGV(玻璃) | TSV(硅) |
|---|---|---|
| 高频损耗 | 极低,毫米波友好 | 较高(硅衬底损耗) |
| 最小孔径/密度 | 20μm 级 | 可达 5μm 级,密度更高 |
| 热导率 | 低(~1 W/m·K),散热弱 | 高(~150 W/m·K),利于散热 |
| 工艺生态 | 新兴,供应链建设中 | 成熟,CMOS 产线兼容 |
| 大尺寸成本 | 面板级潜力大 | 受晶圆尺寸限制 |
| 工艺 | 深宽比 | 最小孔径 | 孔壁粗糙度 | 产能 |
|---|---|---|---|---|
| 激光诱导深度刻蚀(LIDE) | 最高 10:1 | 10μm | < 100nm Ra | 约 100 孔/秒 |
| 聚焦放电(电火花辅助刻蚀) | 约 3:1 | 50μm | < 200nm Ra | 约 1,000 孔/秒 |
| 超短脉冲激光烧蚀 | 约 5:1 | 20μm | < 200nm Ra | 约 10 孔/秒 |
| 参数 | 典型规格 |
|---|---|
| 基材 | Borofloat 33、熔融石英、无碱玻璃、蓝宝石 |
| 直径 | 100 / 150 / 200 / 300mm(4–12 英寸) |
| 孔径 | 10–200μm |
| 通孔间距 | 50–500μm |
| 绝缘层 | PECVD SiO₂(100–500nm)、ALD Al₂O₃(50–100nm) |
| 金属化 | Cu(PVD 种子 + 电镀)、Ti/Cu、TiW/Cu、Cr/Au、Cu/Ni/Au |
| 单孔电阻 | 典型 < 100 mΩ(50×500μm 实心铜填充) |
| 介电损耗 | tan δ < 0.005 |
选择逻辑:追求高密度与高深宽比选 LIDE;孔径较粗、对产能要求高选聚焦放电;研发打样、孔型特殊选超短脉冲激光。
TGV 从成孔到金属化涉及的主要设备与工艺类别。
| 设备 / 工艺类别 | 典型配置 | 用途 |
|---|---|---|
| 激光打孔设备 | 超快激光改质系统 + 湿法刻蚀线 | 激光诱导深度刻蚀成孔 |
| 绝缘层沉积设备 | PECVD、ALD | 孔内 SiO₂ / Al₂O₃ 绝缘层 |
| 种子层设备 | PVD 溅射(Ti/Cu、TiW/Cu) | 粘附层与铜种子层沉积 |
| 电镀设备 | Cu 电镀填孔线 | 通孔实心铜填充 |
| 平坦化设备 | CMP 抛光机 | 去除表面多余铜并平坦化 |
| 检测设备 | SEM / FIB、X-Ray / CT、四线 Kelvin 电阻、氦检漏 | 孔型、空洞与可靠性验证 |
以下案例均已匿名化处理,仅保留合作模式与可分享的结果。
客户需要多组孔径/深宽比的 TGV 玻璃样品做工艺验证,我们提供参数梯度样品批并随批附孔型与翘曲检测数据。
结果:图纸确认到样品交付 6 周,一次通过验证。
客户自备玻璃孔位图,委托我们完成种子层沉积与电镀填孔,重点控制深孔内空洞率与孔壁覆盖均匀性。
结果:关键批次空洞率控制在约定指标内,转入小批量试产。
玻璃不会简单取代硅,而是与硅形成分工:芯片近端互连继续用硅,大面积扇出与高频走线用玻璃。评估一套 TGV 方案,重点看三件事——成孔工艺能否兼顾孔径与产能、金属化能否抑制空洞、以及热循环与气密性是否达标。把孔位图(DXF/GDSII)发给我们,1 个工作日内即可拿到可制造性评估与报价。
BF33 等玻璃基板现货,孔位图发来 1 个工作日内反馈可制造性与报价。